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使用可编程直流电源或者交流电源、数字示波器、EMC接收机,数字万用表、艾德克斯电子负载、电流钳等测试设备为产品进行功能测试、电源测试、信号测试、关键元器件测试、环境测试、EMC测试、机械相关的测试。物理测试还会进行破坏性测试如:跌落试验、挤压、扭曲等等,此篇文章内容主要是以硬件相关
功能测试主要是针对产品的具体功能进行初步测试。
比如产品的某些接口有短路保护功能,那么我们需要考虑如何对产品进行短路测试,包括接口上的哪些信号需要短路?对电源或接地短路?
可编程直流电源或者交流电源进行电源测试是硬件测试的主要部分。测试内容包括输入电压范围和输出电压特性(上升时间、下降时间、过冲、返回通道等)、多电源系统的上电和上电顺序测试、纹波和噪声测试、动态负载特性测试、发热器件(功率芯片、电感、mosfet等)温升测试。另外,芯片本身的一些功能也要进行测试,比如过压欠压保护、过流保护等。需要注意的是,功率模块测试需要针对不同的环境温度进行测试,一般分为低温常温、常温、高温。
信号测试是在整测试仪器功能测试的基础上进行的。原固件版本验证完成后,整机需要测试关键信号。
例如晶振信号测试,包括晶振上电到输出信号稳定时间测试,一般需要满足系统和软件要求。此外,还需要测试晶振波形和频率。一般要求波形无明显失真,频率在允许误差范围内。
比如reset信号测试、RS485信号测试、CAN信号测试、SPI信号测试、UART信号测试等,有些信号需要按照datasheet中的时序图进行测试,严格按照给定的时间要求。比如TJA1051芯片手册中对时间的一些要求:
关键元器件的特性测试,如防反接二极管通流伏安特性测试,熔断器过流特性测试。这个测试的目的是找出关键部件的特性,一些大公司会有专门的器件工程师来做这件事。我们对元器件的特性了解得越多,就越能更好地理解和控制我们正在设计的电路。
A类:被测设备或系统的所有功能在扰动期间和扰动后均正常运行,符合设计要求;
B 类:DUT 或系统的所有功能在受到干扰时正常运行。但是,一项或多项功能操作将偏离指定的错误。排除干扰后所有功能可自动恢复正常,但记忆功能应为A级;
C类:DUT或系统的一项或多项功能在受到干扰时不能正常运行,但在干扰消除后能自动恢复正常,但不影响记忆功能;
D类:设备和系统的功能在扰动期间和扰动后不能正常运行,但经操作者/用户排除和复位扰动后仍能正常运行,但不影响记忆功能;
E 级:设备和系统在干扰期间和干扰后无法正常运行,如果不修理或更换设备或系统,就无法恢复正常状态。